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https://hdl.handle.net/20.500.14094/90002969
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90002969 (fulltext)
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624 KB
23
メタデータ
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メタデータID
90002969
アクセス権
open access
出版タイプ
Version of Record
タイトル
Low-energy block-level instantaneous comparison 7T SRAM for dual modular redundancy
著者
Okumura, Shunsuke ; Nakata, Yohei ; Yanagida, Koji ; Kagiyama, Yuki ; Yoshimoto, Shusuke ; Kawaguchi, Hiroshi ; Yoshimoto, Masahiko
著者名
Okumura, Shunsuke
奥村, 俊介
オクムラ, シュンスケ
著者名
Nakata, Yohei
中田, 洋平
ナカタ, ヨウヘイ
著者名
Yanagida, Koji
柳田, 晃司
ヤナギダ, コウジ
著者名
Kagiyama, Yuki
鍵山, 祐輝
カギヤマ, ユウキ
著者名
Yoshimoto, Shusuke
吉本, 秀輔
ヨシモト, シュウスケ
著者ID
A0302
研究者ID
1000000361642
KUID
https://kuid-rm-web.ofc.kobe-u.ac.jp/search/detail?systemId=b584e37f288df9e9520e17560c007669
著者名
Kawaguchi, Hiroshi
川口, 博
カワグチ, ヒロシ
所属機関名
科学技術イノベーション研究科
著者ID
A0340
研究者ID
1000030324099
KUID
https://kuid-rm-web.ofc.kobe-u.ac.jp/search/detail?systemId=40bd226fd9fbd0ed520e17560c007669
著者名
Yoshimoto, Masahiko
吉本, 雅彦
ヨシモト, マサヒコ
所属機関名
システム情報学研究科
言語
English (英語)
収録物名
IEICE Electronics Express
巻(号)
9(6)
ページ
470-476
出版者
The Institute of Electronics, Information and Communication Engineers(IEICE)
刊行日
2012-03-25
公開日
2015-11-25
カテゴリ
システム情報学研究科
科学技術イノベーション研究科
学術雑誌論文
権利
copyright©2012 IEICE
関連情報
DOI
https://doi.org/10.1587/elex.9.470
NAID
130001922372
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資源タイプ
journal article
eISSN
1349-2543
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